Słownik pojęć metrologicznych

Poniżej przedstawiam wybrane ważniejsze terminy związane z metrologią. Dwa dokumenty źródłowe dla aktualnie stosowanych definicji to:

  • “Międzynarodowy słownik metrologii. Pojęcia podstawowe i ogólne terminy z nimi związane (VIM); PKN-ISO/IEC Guide 99:2010.
  • PN-EN ISO 14978:2007: Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) — Pojęcia ogólne i wymagania dotyczące sprzętu pomiarowego do GPS

Metrologia – nauka o pomiarach. Obejmuje wszystkie teoretyczne i praktyczne problemy związane z pomiarami, niezależnie od rodzaju wielkości mierzonej i dokładności pomiarów.


Pomiary, przyrządy pomiarowe

Wyposażenie pomiarowe – przyrząd pomiarowy, oprogramowanie, wzorzec jednostki miary, materiał odniesienia lub aparatura pomocnicza lub ich kombinacja, niezbędne do przeprowadzenia procesu pomiarowego.

Przyrząd pomiarowy – urządzenie, układ pomiarowy lub jego elementy, przeznaczone do wykonywania pomiarów, samodzielnie lub w połączeniu z jednym lub z wieloma urządzeniami dodatkowymi; wzorce miary i materiały odniesienia są traktowane jako przyrządy pomiarowe (GUM)

lub

Przyrząd pomiarowy – urządzenie służące do wykonywania pomiarów, użyte indywidualnie lub w połączeniu z jednym lub więcej urządzeniami dodatkowymi. UWAGA 1 – przyrząd pomiarowy, który może być używany pojedynczo jest układem pomiarowymUWAGA 2 – przyrząd pomiarowy może być przyrządem pomiarowym wskazującym lub miarą materialną (PKN).

Układ pomiarowy – zbiór obejmujący jeden lub więcej przyrządów pomiarowych, często inne urządzenia w tym odczynniki i zasilanie, połączone i przystosowane do generowania wartości wielkości zmierzonej, w określonych przedziałach wielkości określonych rodzajów.

Proces pomiarowy, pomiar – zbiór operacji niezbędnych do wyznaczenia wartości wielkości.

Metoda pomiarowa – ogólny opis logicznego uporządkowania działań wykonywanych przy pomiarze

Procedura pomiarowa – szczegółowy opis pomiaru pozostający w zgodności z jedną lub więcej zasadą pomiaru oraz z daną metodą pomiarową, oparty na modelu pomiaru i zawierający sposób obliczeń niezbędnych do otrzymania wyniku pomiaru

Błąd pomiaru – różnica między wynikiem pomiaru, a wartością „prawdziwą” wielkości mierzonej.

MPE – Maximum Permissible Error – Maksymalny dopuszczalny błąd przyrządu pomiarowego, inaczej błąd graniczny. Określany w normach lub poprzez specyfikację producenta.

Dokładność przyrządu pomiarowego zdolność przyrządu pomiarowego do dawania wyników bliskich wartości prawdziwej.

Klasa dokładności przyrządu – klasa przyrządów pomiarowych, spełniających określone wymagania metrologiczne i których błędy mieszczą się w wyznaczonych granicach. Klasę dokładności oznacza się na ogół liczbą lub znakiem przyjętym umownie i nazywanym oznaczeniem klasy.

System zarządzania pomiarami  – zbiór wzajemnie powiązanych lub wzajemnie oddziałujących elementów niezbędnych do osiągnięcia potwierdzenia metrologicznego i ciągłego sterowania procesami pomiarowymi.

Potwierdzenie metrologiczne – zbiór operacji wymaganych do zapewnienia, że wyposażenie pomiarowe jest zgodne z jego zamierzonym użyciem.


Wzorcowanie

Wzorcowanie, kalibracja – zbiór operacji ustalających w określonych warunkach relację między wartościami wielkości mierzonej wskazanymi przez przyrząd pomiarowy lub układ pomiarowy albo wartościami reprezentowanymi przez wzorzec miary lub przez materiał odniesienia, a odpowiednimi wartościami wielkości realizowanymi przez wzorce jednostki miary. Wynik wzorcowania pozwala na przypisanie wskazaniom odpowiednich wartości wielkości mierzonej lub na wyznaczenie poprawek wskazań. Wzorcowanie może również służyć do wyznaczenia innych właściwości metrologicznych, jak na przykład efektów wielkości wpływających. Potwierdzeniem wykonania jest świadectwo wzorcowania.

lub

Wzorcowanie, kalibracja – działanie, które w pierwszym kroku ustala zależność pomiędzy odwzorowywanymi przez wzorzec pomiarowy wartościami wielkości wraz z ich niepewnościami pomiaru, a odpowiadającymi im wskazaniami wraz z ich niepewnościami, a w drugim kroku wykorzystuje tę informację do ustalenia zależności pozwalającej uzyskać wynik pomiaru na podstawie wskazania. UWAGA 1 – Efektem wzorcowania może być protokół, funkcja wzorcowania, wykres wzorcowania, krzywa wzorcowania albo tablica wzorcowania. W niektórych przypadkach może ona składać się z poprawek lub mnożników poprawkowych wskazania wraz z towarzyszącą niepewnością. UWAGA 2 – Wzorcowania nie należy mylić z adiustacją układu pomiarowego, często mylnie nazywaną “samowzorcowaniem”, ani z weryfikacją wzorcowania. UWAGA 3 – Często za wzorcowanie uważany jest sam pierwszy krok wspomniany w powyższej definicji. (Definicja ze słownika PKN)

Legalizacja – zespół czynności obejmujących sprawdzenie, stwierdzenie i poświadczenie dowodem legalizacji, że przyrząd pomiarowy spełnia wymagania metrologiczne. Dotyczy przyrządów podlegających pod wymagania dyrektywy MID.

Spójność pomiarowa – właściwość wyniku pomiaru lub wzorca jednostki miary polegająca na tym, że można je powiązać z określonymi odniesieniami, na ogół z wzorcami państwowymi lub międzynarodowymi jednostkami miary, za pośrednictwem nieprzerwanego łańcucha porównań, z których wszystkie mają określone niepewności. Spójność pomiarowa charakteryzowana jest przez sześć podstawowych elementów:

  • Nieprzerwany łańcuch porównań;
  • Niepewność pomiaru;
  • Dokumentacja;
  • Kompetencje;
  • Odniesienie do jednostek SI;
  • Odstępy czasu między wzorcowaniami.

lub

Spójność pomiarowa – powiązanie z wzorcami pomiarowymi. Właściwość wyniku pomiaru, przez której wynik może być związany z odniesieniem przez udokumentowany, nieprzerwany łańcuch wzorcowań, z których każde wnosi swój udział do niepewności pomiaru (PKN).

Niepewność pomiaru – parametr związany z wynikiem pomiaru, charakteryzujący rozrzut wartości, które można w uzasadniony sposób przypisać wielkości mierzonej. Takim parametrem może być na przykład odchylenie standardowe (lub jego wielokrotność) albo połowa szerokości przedziału odpowiadającego określonemu poziomowi ufności.
Niepewność pomiaru zawiera na ogół wiele składników. Niektóre z nich można wyznaczyć na podstawie rozkładu statystycznego wyników szeregu pomiarów i można je scharakteryzować odchyleniem standardowym eksperymentalnym. Inne składniki, które mogą być również scharakteryzowane odchyleniami standardowymi, są szacowane na podstawie zakładanych rozkładów prawdopodobieństwa opartych na doświadczeniu. (GUM)

lub

Niepewność pomiaru – nieujemny parametr charakteryzujący rozproszenie wartości wielkości przyporządkowany do mezurandu, obliczony na podstawie uzyskanej informacji (PKN)